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兩種方法，校準(zhǔn)修正Olympus相控陣儀
一、Olympus相控陣儀聲速校準(zhǔn)
原理:相控陣扇形掃查、線性掃查分別與A型掃描超聲檢測(cè)斜探頭、直探頭校準(zhǔn)的方法相似。扇形掃查的聲束入射到兩個(gè)半徑為50mm與100m同心圓,線性掃查聲束入射兩個(gè)不同厚度的試塊,系統(tǒng)通過(guò)入射到兩個(gè)反射體的發(fā)射與接收時(shí)間關(guān)系計(jì)算出聲速。校準(zhǔn)聲速的目的是讓儀器計(jì)算的聲速與被檢工件聲速相近,減少測(cè)量誤差。
(1)扇形掃查:調(diào)節(jié)角度指針至設(shè)置的扇形掃查范圍中心角度,例如:扇形掃查范圍為30°-70°,調(diào)節(jié)角度指針至50°。將探頭至于CSK-IA試塊,前后移動(dòng)探頭找到兩個(gè)同心半圓的大反射回波,固定探頭,分別移動(dòng)閘門套住回波依次“得到位”,后確定完成聲速校準(zhǔn)。
(2)線性掃查:移動(dòng)探頭找到探頭大回波,閘門依次套住回波“得到位”,后確定完成聲速校準(zhǔn)。
注意事項(xiàng):校準(zhǔn)聲速的過(guò)程中應(yīng)注意溫度變化,應(yīng)事先了解被檢測(cè)材料的聲學(xué)特性等。
二、Olympus相控陣儀延遲校準(zhǔn)
本人對(duì)相控陣延遲的理解:相控陣的超聲波脈沖發(fā)射裝置由探頭晶片與楔塊組成,延遲激發(fā)晶片發(fā)射超聲波形成扇形聲束,各角度的聲束經(jīng)過(guò)楔塊與耦合層到達(dá)工件接觸面所需要的時(shí)間,如圖1,紅色線為各角度聲束的延遲。雖然在儀器初始設(shè)置過(guò)程中輸入了探頭與楔塊等相關(guān)參數(shù),但是輸入的參數(shù)與實(shí)際參數(shù)的誤差,楔塊磨損,掃查角度,耦合劑等因素都會(huì)影響實(shí)際的延遲數(shù)值。 上一篇 Olympus相控陣儀具有更快更高的檢測(cè)效率 下一篇 Olympus測(cè)厚儀的分類介紹